doi: 10.7469/JKSQM.2025.53.3.329

GAN과 Outlier-Exposure를 이용한 관찰되지 않은 반도체 웨이퍼 맵 불량 유형 탐지

Out-of-Distribution Detection for Semiconductor Wafer Map Defect Using GAN and Outlier-Exposure

• 김민주(인하대학교),
• 홍재협(와이비리서치),
• 허영범(인하대학교)