doi: 10.7469/JKSQM.2019.47.2.381


군집분석 및 반응표면분석법을 활용한 반도체 공정 수율향상에 관한 연구

Improving the Yield of Semiconductor Manufacturing Processes using Clustering Analysis and Response Surface Method

  • Koh,Kwan Ju(경기대학교 일반대학원 산업경영공학과),
  • Kim,Na Yeon(경기대학교 일반대학원 산업경영공학과),
  • Kim,Yong Soo(경기대학교 산업경영공학과)

이력 정보

2019.06.04 투고
2019.06.09 수정
2019.06.10 승인
2019.06.30 발행